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簡(jiǎn)要描述：華測(cè)儀器 國(guó)產(chǎn)定制鐵電性能綜合測(cè)量?jī)x，內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或較高)、RAM(8G 或較大)、固態(tài)硬盤(pán)(250G 或較大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD 光驅(qū)、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。
產(chǎn)品型號(hào)：Huace FE廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-10-28訪 問(wèn) 量：932產(chǎn)品分類
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| 品牌 | HC/華測(cè) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
|---|---|---|---|
| 內(nèi)置電壓 (可外接高壓放大器) | ±10V （可外接不同型號(hào)放大器） | 可外接高壓放大器 （最大可外接20KV高壓放大器需配置高壓防護(hù)模塊） | ±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV |
| ADC位數(shù) | 18位 | zui小電荷分辨率 | <10fC |
| zui大電荷分辨率 | 27.6mC | zui小面積分辨率 | <1μ2 |
| zui大面積分辨率 | >100cm2 | zui大電滯回線測(cè)試頻率 | 270KHz @10V |
| zui低測(cè)試頻率 | 0.03Hz | 最小脈沖寬度 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備) | 0.5us |
華測(cè)儀器 鐵電性能綜合測(cè)量?jī)x
產(chǎn)品介紹：
華測(cè)儀器 鐵電性能綜合測(cè)量?jī)x有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍。在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV、10kV、20kV， Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、 脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試功能。內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或較高)、RAM (8G 或較大)、固態(tài)硬盤(pán)(250G 或較大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD 光驅(qū)、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。
可擴(kuò)展部件：
可與高低溫冷熱臺(tái)、高溫測(cè)試裝置、探針臺(tái)、高壓放大器、高阻計(jì)、阻抗分析儀、 激光干涉儀、溫控控制器、數(shù)字源表等擴(kuò)展。
塊體測(cè)試夾具： 用于厚膜、塊體鐵電、擊穿測(cè)試可擴(kuò)展變溫功能。
薄膜四探針探針臺(tái)：室溫到 250℃ 可用于厚膜鐵電、壓電 （e31）、熱釋電測(cè)試。
薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)： -196℃到+600℃ 可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試。
薄膜探針臺(tái)（國(guó)產(chǎn)）： 室溫鐵電測(cè)試 可用于薄膜和厚膜室溫鐵電性能測(cè)試
產(chǎn)品系列：
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。
華測(cè)儀器 國(guó)產(chǎn)定制鐵電性能綜合測(cè)量?jī)x
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