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功能材料測(cè)試儀器

阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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高溫閃燒試驗(yàn)儀的原理和工作方式

HCYD--800華測(cè) 壓電材料熱釋電系數(shù)測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-04-03

型號(hào)：HCYD--800

瀏覽量：3858

華測(cè) 壓電材料熱釋電系數(shù)測(cè)試儀除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性外，還具有壓電。壓電陶瓷經(jīng)過極化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。
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測(cè)固體絕緣材料的漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-10-16

型號(hào)：

瀏覽量：3788

測(cè)固體絕緣材料的漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過人機(jī)對(duì)話方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)材料的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗(yàn)。適用于對(duì)固體絕緣材料（如：絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等）在工頻電壓下?lián)舸╇妷?，擊穿?qiáng)度和耐電壓的測(cè)試。儀器對(duì)實(shí)驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行采集、處理、存取、顯示、打印。
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絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/電路板測(cè)試

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：

瀏覽量：2246

絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/電路板測(cè)試配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。適用標(biāo)準(zhǔn)：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
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低耗能高溫閃燒試驗(yàn)儀器

更新時(shí)間：2023-08-22

型號(hào)：

瀏覽量：2157

低耗能高溫閃燒試驗(yàn)儀器具有耐高溫、耐酸耐堿等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用。然而，陶瓷材料的制備通常需要很高的燒結(jié)溫度，消耗大量能源，生產(chǎn)成本較高，是限制其廣泛應(yīng)用的一個(gè)主要原因。為了降低陶瓷的生產(chǎn)成本和獲得優(yōu)異的陶瓷，人們采取了一系列措施。
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華測(cè)-高溫快速爐測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：

瀏覽量：1703

華測(cè)-高溫快速爐測(cè)試儀器-高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象
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HC6630頻譜/阻抗分析儀 /介電常數(shù)

更新時(shí)間：2024-08-26

型號(hào)：HC6630

瀏覽量：2663

頻譜/阻抗分析儀 /介電常數(shù)可在不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量。其等效電路分析功能支援7種不同的參數(shù)模型(三元件、四元件)，可協(xié)助客戶模擬元件的等效參數(shù)值。
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TF Analyzer 3000功能材料電學(xué)測(cè)試鐵電壓電分析儀

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：TF Analyzer 3000

瀏覽量：3094

功能材料電學(xué)測(cè)試鐵電壓電分析儀，是一款擴(kuò)展性較高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
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華測(cè)-鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-06-04

型號(hào)：

瀏覽量：1537

華測(cè)-鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究為一體的綜合測(cè)試系統(tǒng)。
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