簡要描述:鐵電材料參數(shù)分析儀綜合測試系統(tǒng) 電滯回線,廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究為一體的綜合測試系統(tǒng)。為研究壓電陶瓷材料/鐵電材料測試設(shè)備。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | 北京華測 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
---|---|---|---|
重量 | 30kg | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子,電氣,綜合 |
極化測試精確值 | 10fC | 電壓范圍 | ±30V(可擴(kuò)展至±4kV) |
輸出電流峰值 | ±1A | 鐵電材料漏電流的測試 | 10pA~100mA |
脈沖寬度min | 25ns | 塊體材料樣品盒測試溫度 | 室溫~1200°C電滯回線測定 |
動態(tài)電滯回線測試頻率 | 0.001Hx~100kHz |
產(chǎn)品簡介:
本設(shè)備即可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))、強(qiáng)場介電、熱釋電系數(shù)、因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊,也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測試;配合高低溫試環(huán)境同時(shí)可以測量不同環(huán)境溫度下的材料參數(shù)。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋點(diǎn)薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。為一體的綜合測試系統(tǒng)。為研究壓電陶瓷材料/鐵電材料的測試設(shè)備。
產(chǎn)品優(yōu)勢:
它可測壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù);
測量壓電材料介電-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試;
可測量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測試;
它可測量壓電陶瓷的因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù);
可選配不同的測試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測試;
本儀器可配合高壓放大器實(shí)現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測試。
技術(shù)參數(shù):
電壓范圍 | ±30V(可擴(kuò)展至±4kV) |
輸出電流峰值 | ±1A |
負(fù)荷電容max | 1μF |
動態(tài)電滯回線測試頻率 | 0.001Hx~100kHz |
鐵電材料漏電流的測試 | 10pA~100mA |
脈沖寬度min | 25ns |
上升時(shí)間 | 7ns |
極化測試精確值 | 10fC |
塊體材料樣品盒測試溫度 | 室溫~1200°C電滯回線測定 |
技術(shù)說明:
電壓范圍: +/- 25 V(可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV);
電滯頻率:增強(qiáng)型FE模塊250kHz,高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz;
脈沖寬度:50ns;
上升時(shí)間min:10ns;
疲勞頻率max:16MHz;
電流放大范圍:1pA~1A;
負(fù)荷電容max:1nF;
輸出電流峰值:+/-1 A。
壓電常數(shù)測試原理:
1、5—加壓裝置絕緣座 2、4—加壓裝置引出電極
3—試樣 C—并聯(lián)電容器
K—短路開關(guān) 6—靜電計(jì)
熱釋電系數(shù)測試原理:
1、冰點(diǎn) 2、熱電偶 3、屏蔽溫度室 4、試樣 5、絕緣保溫層
6、積分電容 7、靜電計(jì) 8、函數(shù)分析儀 9、加熱器 10、絕緣支架
使用介面:
多語介面:支持中文/英文兩種語言界面;
即時(shí)監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時(shí)瀏覽,無須等待;
圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);
使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;
故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。
集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ 雙核處理器
集成打機(jī)印接口,可擴(kuò)充8個(gè)USB接口
支持16G內(nèi)存,60G固態(tài)硬盤,讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢。
鐵電材料參數(shù)分析儀綜合測試系統(tǒng) 電滯回線
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